VLSI 测试原理和架构：可测试性设计PDF书籍下载

原名:VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
作品简介:本书是新 DFT 方法的综合指南，将向读者展示如何设计可测试的优质产品、降低测试成本、提高产品质量和良率，以及加快上市时间和批量生产时间。 · 最新的可测试性设计内容。 · 封面……